1、高溫四探針測(cè)試儀采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具。

　　2、本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能。采用高的精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，配備標(biāo)準(zhǔn)英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表。

　　3、本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。

　　4、整體為桌面型設(shè)計(jì)，采用紅外燈加熱，無保溫爐膛結(jié)構(gòu)，滿足實(shí)驗(yàn)室無灰塵排放的要求。

　　5、內(nèi)置工控機(jī)、觸摸屏，可以利用工控機(jī)設(shè)定加熱曲線，并實(shí)現(xiàn)和其他測(cè)試設(shè)備的集成控。

　　6、多功能真空加熱爐，一體爐膛設(shè)計(jì)、可實(shí)現(xiàn)、高溫、真空、氣氛環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試。

　　7、采用鉑材料作為導(dǎo)線、以減少信號(hào)衰減、提高測(cè)試精度。

　　8、可以測(cè)量半導(dǎo)體薄膜材、薄片材料的方塊電阻、電阻率。

　　9、采用雙電測(cè)組合測(cè)量模式，不用進(jìn)行系數(shù)修正。

　　10、可以測(cè)量高溫、真空、氣氛條件下薄膜方塊電阻和薄層電阻率。

　　11、可以分析方塊電阻和電阻率隨溫度變化的曲線。

　　12、可以自動(dòng)調(diào)節(jié)施加在樣品的測(cè)試電壓，以防樣品擊穿。

　　總結(jié)：高溫四探針測(cè)試儀的功能優(yōu)勢(shì)及應(yīng)用范圍小編就分享到這里，看完本文您就應(yīng)該有了基本的認(rèn)識(shí)和了解相信大家都明白了吧！總的來說，希望對(duì)大家有所幫助。