薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀器

產(chǎn)品型號(hào)：HCRD-2

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2024-08-30

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀器通過人機(jī)對(duì)話方式，本產(chǎn)品是根據(jù)IEC 60674-2:2009 電氣用塑料薄膜第2部分：試驗(yàn)方法及其第1次修正（2001）和 GB/T13542-92《電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》而設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置。主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試。

產(chǎn)品特性Product characteristics

品牌	華測(cè)

薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀

一、薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀工作原理：

薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀試驗(yàn)電壓是0－20kV交直流電壓，其波動(dòng)為±1%。測(cè)試儀在試樣弱點(diǎn)擊穿后約0.1s內(nèi)使電壓回升到原來設(shè)定的電壓。銅輥為下電極，導(dǎo)電橡膠為上電極。薄膜以3m/min的速度移動(dòng)。遇弱點(diǎn)時(shí)擊穿，擊穿點(diǎn)自動(dòng)累積計(jì)數(shù)。膜移動(dòng)以平方數(shù)自動(dòng)計(jì)數(shù)。

二、薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀主要特點(diǎn):

1、薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。

2、測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。

3、主要元器件均選用品牌（如歐姆龍，美信，ABB等），有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。

4、測(cè)量，復(fù)現(xiàn)性好。

5、測(cè)試過程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。

6、擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。

7、多重保護(hù)功能，充分考慮了操作人員及設(shè)備的安全性。

8、過壓、過流、接地保護(hù)，試驗(yàn)平臺(tái)門開啟保護(hù)。

三、薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀儀器參數(shù)：

試驗(yàn)電壓	0～5000V （AC、DC）	輸入電壓	220V
電壓精度	±1%	有效測(cè)量圍	0～5kV（AC\DC）
保護(hù)電流	0～40mA	電流精度	±1%
膜移動(dòng)速度	3-10m/min 連續(xù)可調(diào)	試樣寬度	60～650mm(可調(diào))
高壓防護(hù)	TVS	升壓方式	SPWM
控制系統(tǒng)	嵌入式工控機(jī)	控制方式	觸摸屏
功率	1kW	數(shù)據(jù)傳輸	2個(gè)USB接口
儀器尺寸	220 mm x 230 mm x70mm	供電方式	220V（50HZ）